လေဆာပစ္စည်း အပြန်အလှန် သက်ရောက်မှု – သော့ပေါက် အကျိုးသက်ရောက်မှု

သော့ပေါက်များ ဖွဲ့စည်းခြင်းနှင့် ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်ခြင်း-

Keyhole အဓိပ္ပာယ်ဖွင့်ဆိုချက်- ရောင်ခြည်ဖြာထွက်မှု 10 ^ 6W/cm ^ 2 ထက်ကြီးသောအခါ၊ ပစ္စည်း၏မျက်နှာပြင်သည် လေဆာ၏လုပ်ဆောင်ချက်အောက်တွင် အရည်ပျော်ပြီး အငွေ့ပျံသွားသည်။ အငွေ့ပျံနှုန်း လုံလောက်သောအခါ၊ ထုတ်ပေးသော အငွေ့ပြန်ဖိအားသည် အရည်သတ္တု၏ မျက်နှာပြင်တင်းမာမှုနှင့် အရည်ဆွဲငင်အားကို ကျော်လွှားရန် လုံလောက်ပြီး ထို့ကြောင့် အရည်သတ္တုအချို့ကို ရွှေ့ပြောင်းကာ လှုံ့ဆော်ဇုန်ရှိ အရည်ပျော်ကန်ကို နစ်မြုပ်စေပြီး သေးငယ်သော အပေါက်များဖြစ်ပေါ်စေသည်။ အလင်းတန်းသည် သေးငယ်သော အပေါက်၏အောက်ခြေတွင် တိုက်ရိုက်အကျိုးသက်ရောက်ပြီး သတ္တုကို ပိုမိုအရည်ပျော်စေပြီး ဓာတ်ငွေ့ဖြစ်စေသည်။ မြင့်မားသောဖိအားရှိသော ရေနွေးငွေ့သည် အပေါက်၏အောက်ခြေရှိ အရည်သတ္တုကို အရည်ပျော်ကန်၏ အပြင်ဘက်သို့ စီးဆင်းစေရန် ဆက်လက်ဖိအားပေးကာ အပေါက်ငယ်ကို ပိုမိုနက်ရှိုင်းစေသည်။ ဤလုပ်ငန်းစဉ်သည် ဆက်လက်လုပ်ဆောင်နေပြီး နောက်ဆုံးတွင် အရည်သတ္တုတွင် သော့ပေါက်ကဲ့သို့သော အပေါက်ကို ဖွဲ့စည်းပေးသည်။ အပေါက်ငယ်ရှိ လေဆာရောင်ခြည်မှ ထုတ်လုပ်သော သတ္တုအငွေ့ဖိအားသည် အရည်သတ္တု၏ မျက်နှာပြင်တင်းမာမှုနှင့် ဆွဲငင်အားနှင့် ညီမျှသွားသောအခါ၊ အပေါက်ငယ်သည် နက်ရှိုင်းတော့မည်မဟုတ်ဘဲ အနက်တည်ငြိမ်သော အပေါက်ငယ်ကို ဖွဲ့စည်းပေးပြီး ၎င်းကို “အပေါက်ငယ်အကျိုးသက်ရောက်မှု” ဟုခေါ်သည်။

လေဆာရောင်ခြည်သည် အလုပ်အပိုင်းနှင့် နှိုင်းယှဉ်လျှင် ရွေ့လျားသွားသည်နှင့်အမျှ အပေါက်ငယ်သည် အနည်းငယ်နောက်ပြန်ကွေးနေသော ရှေ့မျက်နှာစာနှင့် နောက်ကျောတွင် ထင်ရှားစွာ စောင်းနေသော ပြောင်းပြန်တြိဂံတစ်ခုကို ပြသထားသည်။ အပေါက်ငယ်၏ ရှေ့အနားသည် အပူချိန်မြင့်မားပြီး အငွေ့ဖိအားမြင့်မားသော လေဆာ၏ လုပ်ဆောင်ချက်ဧရိယာဖြစ်ပြီး နောက်အနားတစ်လျှောက် အပူချိန်မှာ နှိုင်းယှဉ်လျှင် နိမ့်ပြီး အငွေ့ဖိအားမှာ နည်းပါးသည်။ ဤဖိအားနှင့် အပူချိန်ကွာခြားချက်အောက်တွင် အရည်ပျော်နေသော အရည်သည် ရှေ့အဆုံးမှ နောက်အဆုံးသို့ အပေါက်ငယ်ပတ်လည်တွင် စီးဆင်းပြီး အပေါက်ငယ်၏ နောက်အဆုံးတွင် ဝဲတစ်ခုဖြစ်ပေါ်စေကာ နောက်ဆုံးတွင် နောက်အနားတွင် မာကျောသွားသည်။ လေဆာ သရုပ်ဖော်ခြင်းနှင့် အမှန်တကယ် ဂဟေဆက်ခြင်းမှတစ်ဆင့် ရရှိသော သော့ပေါက်၏ ပြောင်းလဲနေသောအခြေအနေကို အထက်ပါပုံတွင် ပြသထားသည်။ အပေါက်ငယ်များ၏ ပုံသဏ္ဌာန်နှင့် မတူညီသော အမြန်နှုန်းများဖြင့် ခရီးသွားစဉ်အတွင်း ပတ်ဝန်းကျင်ရှိ အရည်ပျော်နေသော အရည်၏ စီးဆင်းမှု။

အပေါက်ငယ်လေးများရှိနေခြင်းကြောင့် လေဆာရောင်ခြည်စွမ်းအင်သည် ပစ္စည်း၏အတွင်းပိုင်းသို့ ထိုးဖောက်ဝင်ရောက်ပြီး ဤနက်ရှိုင်းကျဉ်းမြောင်းသော ဂဟေဆက်ကြောင်းများကို ဖွဲ့စည်းသည်။ လေဆာနက်ရှိုင်းစွာထိုးဖောက်ဝင်ရောက်နိုင်သော ဂဟေဆက်ကြောင်း၏ ပုံမှန်ဖြတ်ပိုင်းပုံသဏ္ဍာန်ကို အထက်ပါပုံတွင် ပြသထားသည်။ ဂဟေဆက်ကြောင်း၏ ထိုးဖောက်ဝင်ရောက်နိုင်သောအနက်သည် သော့ပေါက်၏အနက်နှင့် နီးစပ်သည် (အတိအကျပြောရလျှင် သတ္တုဗေဒအလွှာသည် သော့ပေါက်ထက် 60-100um ပိုနက်ပြီး အရည်အလွှာတစ်ခု လျော့နည်းသည်)။ လေဆာစွမ်းအင်သိပ်သည်းဆမြင့်လေ၊ အပေါက်ငယ်ပိုနက်လေဖြစ်ပြီး ဂဟေဆက်ကြောင်း၏ ထိုးဖောက်ဝင်ရောက်နိုင်သောအနက် ပိုများလေဖြစ်သည်။ ပါဝါမြင့်လေဆာဂဟေဆက်ခြင်းတွင် ဂဟေဆက်ကြောင်း၏ အမြင့်ဆုံးအနက်နှင့် အနံအချိုးသည် 12:1 အထိရောက်ရှိနိုင်သည်။

စုပ်ယူမှုကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းလေဆာစွမ်းအင်သော့ပေါက်ဖြင့်

အပေါက်ငယ်များနှင့် ပလာစမာများ မဖွဲ့စည်းမီ၊ လေဆာ၏ စွမ်းအင်ကို အဓိကအားဖြင့် အပူစီးကူးခြင်းဖြင့် အလုပ်ခွင်၏ အတွင်းပိုင်းသို့ ပို့လွှတ်သည်။ ဂဟေဆော်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်သည် လျှပ်ကူးဂဟေဆော်ခြင်း (ထိုးဖောက်မှုအနက် ၀.၅ မီလီမီတာထက်နည်းသော) နှင့် သက်ဆိုင်ပြီး လေဆာ၏ ပစ္စည်းစုပ်ယူမှုနှုန်းမှာ ၂၅-၄၅% အကြားရှိသည်။ သော့ပေါက်တစ်ခု ဖွဲ့စည်းပြီးသည်နှင့် လေဆာ၏ စွမ်းအင်ကို အလုပ်ခွင်၏ အတွင်းပိုင်းမှ အဓိကအားဖြင့် သော့ပေါက်အကျိုးသက်ရောက်မှုမှတစ်ဆင့် စုပ်ယူပြီး ဂဟေဆော်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်သည် နက်ရှိုင်းသော ထိုးဖောက်မှုဂဟေဆော်ခြင်း (ထိုးဖောက်မှုအနက် ၀.၅ မီလီမီတာထက်ပိုသော) ဖြစ်လာပြီး စုပ်ယူမှုနှုန်းမှာ ၆၀-၉၀% ကျော်အထိ ရောက်ရှိနိုင်သည်။

လေဆာဂဟေဆော်ခြင်း၊ ဖြတ်တောက်ခြင်းနှင့် တူးဖော်ခြင်းကဲ့သို့သော လုပ်ငန်းစဉ်များအတွင်း လေဆာစုပ်ယူမှုကို မြှင့်တင်ရာတွင် သော့ပေါက်အာနိသင်သည် အလွန်အရေးကြီးသော အခန်းကဏ္ဍမှ ပါဝင်သည်။ သော့ပေါက်ထဲသို့ ဝင်ရောက်လာသော လေဆာရောင်ခြည်သည် အပေါက်နံရံမှ ရောင်ပြန်ဟပ်မှုများစွာမှတစ်ဆင့် လုံးဝနီးပါး စုပ်ယူခံရသည်။

သော့ပေါက်အတွင်းရှိ လေဆာ၏ စွမ်းအင်စုပ်ယူမှု ယန္တရားတွင် ပြောင်းပြန်စုပ်ယူမှုနှင့် Fresnel စုပ်ယူမှု လုပ်ငန်းစဉ်နှစ်ခု ပါဝင်သည်ဟု ယေဘုယျအားဖြင့် ယုံကြည်ကြသည်။

သော့ပေါက်အတွင်းရှိ ဖိအားချိန်ခွင်လျှာ

လေဆာနက်ရှိုင်းစွာထိုးဖောက်ဝင်ရောက်နိုင်သောဂဟေဆက်ခြင်းအတွင်း၊ ပစ္စည်းသည် ပြင်းထန်စွာအငွေ့ပျံသွားပြီး အပူချိန်မြင့်အငွေ့မှထုတ်လုပ်သော ချဲ့ထွင်မှုဖိအားသည် အရည်သတ္တုကို ထုတ်လွှတ်ကာ အပေါက်ငယ်များဖြစ်ပေါ်စေသည်။ အငွေ့ဖိအားနှင့် ပစ္စည်း၏ ablation ဖိအား (အငွေ့ပျံတုံ့ပြန်မှုအား သို့မဟုတ် recoil ဖိအားဟုလည်းလူသိများသည်) အပြင်၊ မျက်နှာပြင်တင်းမာမှု၊ ဆွဲငင်အားကြောင့်ဖြစ်ပေါ်လာသော အရည်တည်ငြိမ်ဖိအားနှင့် အပေါက်ငယ်အတွင်းရှိ အရည်ပျော်ပစ္စည်းများစီးဆင်းမှုကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော အရည်ဒိုင်းနမစ်ဖိအားများလည်း ရှိပါသည်။ ဤဖိအားများထဲတွင် အငွေ့ဖိအားသာ အပေါက်ငယ်၏အဖွင့်ကို ထိန်းသိမ်းပေးပြီး ကျန်အားသုံးခုမှာ အပေါက်ငယ်ကိုပိတ်ရန်ကြိုးစားသည်။ ဂဟေဆက်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်အတွင်း သော့ပေါက်၏တည်ငြိမ်မှုကိုထိန်းသိမ်းရန်အတွက် အငွေ့ဖိအားသည် အခြားခုခံမှုကိုကျော်လွှားရန်နှင့် မျှခြေရရှိရန် လုံလောက်ရမည်ဖြစ်ပြီး သော့ပေါက်၏ရေရှည်တည်ငြိမ်မှုကို ထိန်းသိမ်းပေးရမည်။ ရိုးရှင်းစေရန်အတွက်၊ သော့ပေါက်နံရံပေါ်တွင် သက်ရောက်သောအားများမှာ အဓိကအားဖြင့် ablation ဖိအား (သတ္တုအငွေ့ပြန်လာဖိအား) နှင့် မျက်နှာပြင်တင်းမာမှုဖြစ်သည်ဟု ယေဘုယျအားဖြင့် ယုံကြည်ကြသည်။

သော့ပေါက် မတည်မငြိမ်ဖြစ်ခြင်း

နောက်ခံ- လေဆာသည် ပစ္စည်းများ၏ မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် လုပ်ဆောင်ပြီး သတ္တုအမြောက်အမြား အငွေ့ပျံစေသည်။ နောက်ပြန်ဖိအားသည် အရည်ပျော်နေသော ရေကန်ပေါ်တွင် ဖိသိပ်ပြီး သော့ပေါက်များနှင့် ပလာစမာများကို ဖွဲ့စည်းကာ အရည်ပျော်အနက်ကို တိုးစေသည်။ ရွေ့လျားနေစဉ်အတွင်း လေဆာသည် သော့ပေါက်၏ ရှေ့နံရံကို ထိမှန်ပြီး လေဆာသည် ပစ္စည်းနှင့် ထိတွေ့သည့် အနေအထားသည် ပစ္စည်းကို ပြင်းထန်စွာ အငွေ့ပျံစေမည်ဖြစ်သည်။ တစ်ချိန်တည်းမှာပင်၊ သော့ပေါက်နံရံသည် ဒြပ်ထုဆုံးရှုံးမှုကို ကြုံတွေ့ရပြီး အငွေ့ပျံခြင်းသည် အရည်သတ္တုပေါ်တွင် ဖိသိပ်မည့် နောက်ပြန်ဖိအားကို ဖြစ်ပေါ်စေပြီး သော့ပေါက်၏ အတွင်းနံရံသည် အောက်ဘက်သို့ ယိမ်းယိုင်ပြီး သော့ပေါက်၏ အောက်ခြေတစ်ဝိုက်တွင် အရည်ပျော်နေသော ရေကန်၏ နောက်ဘက်သို့ ရွေ့လျားစေသည်။ ရှေ့နံရံမှ နောက်နံရံသို့ အရည်ပျော်နေသော ရေကန်၏ အတက်အကျကြောင့် သော့ပေါက်အတွင်းရှိ ပမာဏသည် အဆက်မပြတ် ပြောင်းလဲနေသည်။ သော့ပေါက်၏ အတွင်းပိုင်းဖိအားသည်လည်း လိုက်လျောညီထွေ ပြောင်းလဲသွားပြီး ဖြန်းထုတ်လိုက်သော ပလာစမာ၏ ပမာဏကို ပြောင်းလဲစေသည်။ ပလာစမာ ပမာဏကို ပြောင်းလဲခြင်းသည် လေဆာစွမ်းအင်၏ အကာအကွယ်၊ အလင်းယိုင်ခြင်းနှင့် စုပ်ယူခြင်းတို့ကို ပြောင်းလဲစေပြီး ပစ္စည်းမျက်နှာပြင်သို့ ရောက်ရှိသော လေဆာ၏ စွမ်းအင်ကို ပြောင်းလဲစေသည်။ လုပ်ငန်းစဉ်တစ်ခုလုံးသည် ပြောင်းလဲလွယ်ပြီး အချိန်နှင့်အမျှ ပုံမှန်ဖြစ်နေသောကြောင့် နောက်ဆုံးတွင် လွှသွားပုံသဏ္ဍာန်ရှိပြီး လှိုင်းတွန့်သတ္တုထိုးဖောက်မှုဖြစ်ပေါ်လာပြီး ချောမွေ့သော တူညီသောထိုးဖောက်မှုဂဟေဆက်ခြင်းမရှိပါ။ အထက်ပါပုံသည် ဂဟေဆက်၏အလယ်ဗဟိုနှင့်အပြိုင် longitudinal ဖြတ်တောက်ခြင်းဖြင့်ရရှိသော ဂဟေဆက်၏အလယ်ဗဟို၏ ဖြတ်ပိုင်းမြင်ကွင်းအပြင် သော့ပေါက်အနက်ပြောင်းလဲမှုကို အချိန်နှင့်တပြေးညီတိုင်းတာခြင်းတစ်ခုဖြစ်သည်။အိုင်ပီဂျီ-LDD သည် သက်သေအဖြစ်။

သော့ပေါက်၏ တည်ငြိမ်မှု ဦးတည်ရာကို ပိုမိုကောင်းမွန်အောင်ပြုလုပ်ပါ

လေဆာဖြင့် နက်ရှိုင်းစွာ ထိုးဖောက်ဝင်ရောက်နိုင်သော ဂဟေဆက်ခြင်းအတွင်း အပေါက်ငယ်၏ တည်ငြိမ်မှုကို အပေါက်အတွင်းရှိ ဖိအားအမျိုးမျိုး၏ တက်ကြွသော ဟန်ချက်ညီမှုဖြင့်သာ သေချာစေနိုင်သည်။ သို့သော် အပေါက်နံရံမှ လေဆာစွမ်းအင်စုပ်ယူခြင်းနှင့် ပစ္စည်းများ၏ အငွေ့ပျံခြင်း၊ အပေါက်ငယ်ပြင်ပသို့ သတ္တုအငွေ့များ ထွက်ခြင်း၊ အပေါက်ငယ်နှင့် အရည်ပျော်နေသော ရေကန်၏ ရှေ့သို့ရွေ့လျားခြင်းတို့သည် အလွန်ပြင်းထန်ပြီး မြန်ဆန်သော လုပ်ငန်းစဉ်များဖြစ်သည်။ အချို့သော လုပ်ငန်းစဉ်အခြေအနေများအောက်တွင်၊ ဂဟေဆက်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်အတွင်း အချို့သောအချိန်များတွင် အပေါက်ငယ်၏ တည်ငြိမ်မှုကို ဒေသတွင်းဒေသများတွင် အနှောင့်အယှက်ဖြစ်စေနိုင်ပြီး ဂဟေဆက်ခြင်း ချို့ယွင်းချက်များ ဖြစ်ပေါ်စေနိုင်သည်။ အဖြစ်အများဆုံးနှင့် အဖြစ်များဆုံးများမှာ အပေါက်ငယ်အမျိုးအစား porosity ချို့ယွင်းချက်များနှင့် သော့ပေါက်ပြိုကျခြင်းကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော အစက်အပြောက်များဖြစ်သည်။

ဒါဆို သော့ပေါက်ကို ဘယ်လိုတည်ငြိမ်အောင် လုပ်မလဲ။

သော့ပေါက်အရည်၏ အတက်အကျသည် အတော်လေး ရှုပ်ထွေးပြီး အချက်များစွာ (အပူချိန်စက်ကွင်း၊ စီးဆင်းမှုစက်ကွင်း၊ အားစက်ကွင်း၊ optoelectronic ရူပဗေဒ) ပါဝင်ပတ်သက်ပြီး ၎င်းတို့ကို ရိုးရိုးရှင်းရှင်း အမျိုးအစားနှစ်ခုအဖြစ် အကျဉ်းချုပ်နိုင်သည်- မျက်နှာပြင်တင်းမာမှုနှင့် သတ္တုအငွေ့နောက်ပြန်ဖိအားကြား ဆက်နွယ်မှု။ သတ္တုအငွေ့၏ နောက်ပြန်ဖိအားသည် သော့ပေါက်များ ထုတ်လုပ်မှုအပေါ် တိုက်ရိုက်သက်ရောက်မှုရှိပြီး ၎င်းသည် သော့ပေါက်များ၏ အနက်နှင့် ထုထည်နှင့် နီးကပ်စွာ ဆက်စပ်နေသည်။ တစ်ချိန်တည်းမှာပင်၊ ဂဟေဆက်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်တွင် သတ္တုအငွေ့၏ အပေါ်သို့ ရွေ့လျားနေသော တစ်ခုတည်းသော အရာအနေဖြင့် ၎င်းသည် အစက်အပြောက်များ ဖြစ်ပေါ်ခြင်းနှင့်လည်း နီးကပ်စွာ ဆက်စပ်နေသည်။ မျက်နှာပြင်တင်းမာမှုသည် အရည်ပျော်နေသော ရေကန်၏ စီးဆင်းမှုကို သက်ရောက်မှုရှိသည်။

ထို့ကြောင့် တည်ငြိမ်သော လေဆာဂဟေဆော်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်သည် အရည်ပျော်ရေကန်တွင် မျက်နှာပြင်တင်းမာမှု၏ ဖြန့်ဖြူးမှုဂရက်ဒစ်ကို အတက်အကျများလွန်းခြင်းမရှိဘဲ ထိန်းသိမ်းခြင်းအပေါ် မူတည်ပါသည်။ မျက်နှာပြင်တင်းမာမှုသည် အပူချိန်ဖြန့်ဖြူးမှုနှင့် ဆက်စပ်နေပြီး အပူချိန်ဖြန့်ဖြူးမှုသည် အပူရင်းမြစ်နှင့် ဆက်စပ်နေပါသည်။ ထို့ကြောင့် ပေါင်းစပ်အပူရင်းမြစ်နှင့် လွှဲဂဟေဆက်ခြင်းသည် တည်ငြိမ်သောဂဟေဆော်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်အတွက် အလားအလာရှိသော နည်းပညာဆိုင်ရာလမ်းညွှန်ချက်များဖြစ်သည်။

သတ္တုအငွေ့နှင့် သော့ပေါက်ပမာဏသည် ပလာစမာအကျိုးသက်ရောက်မှုနှင့် သော့ပေါက်အပေါက်၏ အရွယ်အစားကို အာရုံစိုက်ရန် လိုအပ်ပါသည်။ အပေါက်ကြီးလေ၊ သော့ပေါက်ကြီးလေဖြစ်ပြီး အရည်ပျော်ကန်၏အောက်ခြေအမှတ်တွင် မသိမသာအတက်အကျရှိလေဖြစ်ပြီး၊ ၎င်းသည် သော့ပေါက်ပမာဏနှင့် အတွင်းပိုင်းဖိအားပြောင်းလဲမှုများအပေါ် သက်ရောက်မှုအနည်းငယ်သာရှိသည်။ ထို့ကြောင့် ချိန်ညှိနိုင်သော လက်စွပ်မုဒ်လေဆာ (annular spot)၊ လေဆာ arc recombination၊ frequency modulation စသည်တို့သည် ချဲ့ထွင်နိုင်သော ဦးတည်ချက်များဖြစ်သည်။